- 776 Просмотров
- Обсудить
Технологии
индуцированных сбоев подразумевают
создание внештатных условий работы чипа, чтобы открыть потенциальные каналы
доступа к защищенной информации. Например, в конце сентября 1996 года научный
коллектив из Bellcore (научно‑исследовательский центр американской компании
Bell) сообщил о том, что обнаружена серьезная потенциальная слабость общего характера
в защищенных криптографических устройствах, в частности в смарт‑картах для
электронных платежей (D. Boneh, R.A. DeMillo, R.J. Lipton «On the Importance of
Checking Cryptographic Protocols for Faults»; www.demiLLo.com/PDF/smart.pdf).Авторы
назвали свой метод вскрытия «криптоанализом при сбоях оборудования»
(Cryptanalysis in the Presence of Hardware Faults). Суть же метода заключается
в том, что искусственно вызванная с помощью ионизации или микроволнового
облучения ошибка в работе электронной схемы позволяет сравнить сбойные значения
на выходе устройства с заведомо правильными значениями, тем самым
восстанавливая криптографическую информацию, хранящуюся в смарт‑карте.
Никто не решился оставить свой комментарий.
Будь-те первым, поделитесь мнением с остальными.
Будь-те первым, поделитесь мнением с остальными.